更新時間：2022-11-11
產品品牌：Bruker
產品型號：M4 TORNADO
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
M4 TORNADO采用的技術，為各種用戶提供了好的分析性能和方便的操控性。
· 采用多導毛細管聚焦鏡，照射光斑小，空間分辨率高。
· 渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數可變的攝像系統獲得的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。
· 通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進行靈活的激發。
· 使用XFlash®探測器獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步測量速度。
· 基于無標樣分析法準確定量分析塊狀樣品，準確分析多層膜樣品。
· 具有便捷進樣功能的可抽真空的樣品室
行業應用：
1.地球科學（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像、行掃描與相序分析。）
2.司法鑒定、法醫及痕量分析（彈孔射擊殘留物GSR分析等）
3.藝術與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析，修復文物)
4.生命科學（植入材料擴散材料分析，生物體內的生物礦化，水凝膠質檢，樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）
5.材料科學（三元梯度薄膜分析，鋰電池正極材料異物分析，水泥鋼材腐蝕檢驗）
6.環境科學(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
7.質量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）
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